B. Baiocchi;
J. Garcia;
M. Beurkens;
C. Bourdelle;
F. Crisanti;
C. Giroud;
J. Hobirk;
F. Imbeaux;
I. Nunes;
EU-ITM ITER Scenario Modelling group;
JET EFDA contributors;
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L. Frassinetti;
M.N.A. Beurskens;
B. Alper;
C. Bourdelle;
S. Brezinsek;
J. Bucalossi;
P. Buratti;
F. Crisanti;
C. Challis;
J. Flanagan;
C. Giroud;
M. Groth;
J. Hobirk;
E. Joffrin;
M.J. Leyl;
;
P. Lomas;
M. Kempenaars;
M. Maslov;
G. Matthews;
M-L Mayoral;
K. McCormick;
R. Neu;
I. Nunes;
F. Rimini;
S. Saarelma;
P. de Vries;
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JET EFDA contributors;
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A.C.C. Sips;
C.D. Challis;
H. Weisen;
P. Batistoni;
J. Bizarro;
F. Crisanti;
L-G Eriksson;
J. Garcia;
I. Jenkins;
X. Litaudon;
R. Neu;
I. Nunes;
JET EFDA contributors;
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P. Mantica;
C. Angioni;
B. Baiocchi;
M. Baruzzo;
M.N.A. Beurskens;
J.P.S. Bizarro;
R.V. Budny;
P. Buratti;
A. Casati;
C. Challis;
J. Citrin;
G. Colyer;
F. Crisanti;
A.C.A. Figueiredo;
L. Frassinetti;
C. Giroud;
N. Hawkes;
J. Hobirk;
E. Joffrin;
T. Johnson;
E. Lerche;
P. Migliano;
V. Naulin;
A.G. Peeters;
G. Rewoldt;
F. Ryter;
A. Salmi;
R. Sartori;
C. Sozzi;
G. Staebler;
D. Strintzi;
T. Tala;
M. Tsalas;
D. Van Eester;
T.Versloot;
P.C.deVries;
J.Weil;
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JET EFDA contributors;
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P. Buratti;
M. Baruzzo;
R.J. Buttery;
C.D. Challis;
I.T. Chapman;
F. Crisanti;
L. Figini;
M. Gryaznevich;
H. Han;
T.C. Hender;
J. Hobirk;
D.F. Howell;
F. Imbeaux;
E. Joffrin;
O.J. Kwon;
X. Litaudon;
P. Maget;
J. Mailloux;
JET EFDA contributors;
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P. Buratti;
M. Baruzzo;
R.J. Buttery;
C.D. Challis;
I.T. Chapman;
F. Crisanti;
L. Figini;
M. Gryaznevich;
T.C. Hender;
D.F. Howell;
H. Han;
E. Joffrin;
J. Hobirk;
F. Imbeaux;
O.J. Kwon;
X. Litaudon;
J.Mailloux;
JET-EFDA contributors;
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M. Ariola;
F. Crisanti;
F. Rimini;
R. Albanese;
G. Ambrosino;
G. Artaserse;
T. Bellizio;
V. Coccorese;
G. De Tommasi;
P.J. Lomas;
F. Maviglia;
A. Neto;
A. Pironti;
G. Ramogida;
F. Sartori;
R. Vitelli;
L. Zabeo;
JET-EFDA contributors;
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P. Mantica;
C. Angioni;
B. Baiocchi;
C. Challis;
J. Citrin;
G. Colyer;
A.C.A. Figueiredo;
L. Frassinetti;
E. Joffrin;
T.Johnson;
E. Lerche;
A.G. Peeters;
A. Salmi;
D. Strintz;
T. Tala;
M. Tsalas;
D. Van Eester;
P.C. deVries;
J. Weil;
;
M. Baruzzo;
M.N.A. Beurskens;
J.P.S. Bizarro;
P. Buratti;
F. Crisanti;
X. Garbet;
C. Giroud;
N. Hawkes;
J. Hobirk;
F. Imbeaux J. Mailloux;
V. Naulin;
C. Sozzi;
G. Staebler;
T.W. Versloot;
JET EFDA contributors;
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F.G. Rimini;
F. Crisanti;
R. Albanese;
G. Ambrosino;
M. Ariola;
G. Artaserse;
T. Bellizio;
V. Coccorese;
G. De Tommasi;
P. De Vriese;
P.J. Lomas;
F. Maviglia;
A. Neto;
I. Nunes;
A. Pironti;
G. Ramogida;
F. Sartori;
S.R. Shaw;
M. Tsalas;
R. Vitelli;
L. Zabeo;
JET EFDA contributors;
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R. Albanese;
G. Ambrosino;
M. Ariola;
G. Artaserse;
T. Bellizio;
V. Coccorese;
F. Crisanti;
G. De Tommasi;
R. Fresa;
P.J. Lomas;
M. Mattei;
F. Maviglia;
A. Neto;
F. Piccolo;
A. Pironti;
A. Portone;
F.G. Rimini;
F. Sartori;
A. Sorrentino;
V. Toigo;
F. Villone;
B. Viola;
L. Zabeo;
JET EFDA contributors;
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