V. Parail;
T. Evans;
T. Johnson;
J. Lonnroth;
N. Oyama;
G. Saibene;
R. Sartori;
A. Salmi;
P. de Vries;
M. Becoulet;
G. Corrigan;
J. Hastie;
C. Gimblett;
C.M. Greenfield;
T. Hatae;
D. Howell;
V. Hynönen;
Y. Kamada;
T. Kiviniemi;
T. Kurki-Suonio;
A. Loarte;
E. Nardon;
K. Shinohara;
JET EFDA contributors;
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T. Johnson;
V. Hynönen;
V. Parail;
I. Jenkins;
T. Kiviniemi;
T. Kurki-Suonio;
J. Lönnroth;
A. Salmi;
JET-EFDA Contributors;
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J. Lönnroth;
V. Parail;
T. Johnson;
T. Kiviniemi;
N. Oyama;
G. Saibene;
P. de Vries;
T. Hatae;
Y. Kamada;
S. Konovalov;
A. Loarte;
K. Shinohara;
K. Tobita;
H. Urano;
JET-EFDA Contributors;
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V. Parail;
T. Johnson;
T. Kiviniemi;
J. Lonnroth;
D.F. Howell;
A. Loarte G. Saibene;
P. de Vries;
T. Hatae;
Y. Kamada;
S. Konovalov;
N. Oyama;
K. Shinohara;
K. Tobita;
H. Urano;
JET EFDA contributors;
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D.P. Coster;
X. Bonnin;
A. Chankin;
G. Corrigan;
S.K. Erents;
W. Fundamenski;
J. Hogan;
A. Huber;
A. Kallenbach;
G. Kirnev;
A. Kirschner;
T. Kiviniemi;
S. Kuhn;
A. Loarte;
J. Lönnroth;
G.F. Matthews;
R.A. Pitts;
S. Sipiläg;
J. Spence;
J. Strachan;
F. Subba;
E. Tsitrone;
D. Tskhakaya;
S. Wiesen;
M. Warrier;
M. Wischmeier;
R. Zanino;
JET EFDA Contributors;
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J.S. Lönnroth;
V. Parail;
T. Johnson;
G. Saibene;
T. Kiviniemi;
A. Loarte;
P. de Vries;
T. Hatae;
Y. Kamada;
S. Konovalov;
N. Oyama;
K. Shinohara;
K. Tobita;
H. Urano;
JET EFDA contributors;
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W. Fundamenski;
G.F. Matthews;
V. Riccardo;
P. Andrew;
T. Eich;
L.C. Ingesson;
T. Kiviniemi;
T. Kurki-Suonio;
V. Philipps;
S. Sipili;
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contributors to the EFDA-JET workprogramme*;
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