W. Fundamenski;
P. Andrews;
T. Eich;
G.F. Matthews;
R.A. Pitts;
V. Riccardo;
W.Sailer;
S.Sipilä;
JET EFDA contributors;
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W.Fundamenski;
G.Matthews;
V.Riccardo;
T.Eich;
C.Ingesson;
T.Kiviniemi;
T.Kurki-Suonio;
V.Philips;
S.Sipilä;
JET EFDA Contributors;
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