M. Lehnen;
K. Aleynikova;
P.B. Aleynikov;
D.J. Campbell;
P. Drewelow;
N.W. Eidietis;
Yu. Gasparyan;
R.S. Granetz;
Y. Gribov;
N. Hartmann;
E.M. Hollmann;
V.A. Izzo;
S. Jachmich;
S.-H. Kim;
M. Kocan;
H.R. Koslowski;
D. Kovalenko;
U. Kruezi;
A. Loarte;
S. Maruyama;
G.F. Matthews;
P.B. Parks;
G. Pautasso;
R.A. Pitts;
C. Reux;
V. Riccardo;
R. Roccella;
J.A. Snipes;
A.J. Thornton;
P.C. de Vries;
JET EFDA contributors;
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J.C. Wesley;
P.C. deVries;
N.W. Eidietis;
S.M. Flanagan;
S.P. Gerhardt;
R.S. Granetz;
Y. Gribov;
T.C. Hender;
E.M. Hollman;
A.W. Hyatt;
M.F. Johnson;
Y. Kawano;
M. Lehnen;
J. Lister;
R. Martin;
J. Menard;
G. Pautasso;
C. Reux;
V. Riccardo;
S.A. Sabbagh;
D.P. Schissel;
F. Saint-Laurant;
E.J. Strait;
M. Sugihara;
JET-EFDA contributors;
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N.W. Eidietis;
S.P. Gerhardt;
R.S Granetz;
Y. Kawano;
M. Lehnen;
G. Pautasso;
V. Riccardo;
R.L. Tanna;
A.J. Thornton;
ITPA Disruption Database Participants;
JET EFDA contributors;
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