E.R Solano;
P.J. Lomas;
B. Alper;
G. Arnoux;
A. Boboc;
L. Barrera;
P. Belo;
M.N.A. Beurskens;
M. Brix;
K. Crombe;
E de la Luna;
S. Devaux;
T. Eich;
S. Gerasimov;
C. Giroud;
D. Harting;
D. Howell;
G. Kocsis;
H.R. Koslowski;
Y. Liang;
A. López-Fraguas;
M.F.F. Nave;
E. Nardon;
C. Pérez von Thun;
S.D. Pinches;
E. Rachlew;
F. Rimini;
S. Saarelma;
A. Sirinelli;
H. Thomsen;
G.S. Xu;
L. Zabeo;
D. Zarzoso;
JET EFDA contributors;
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I. Nunes;
P.J. Lomas;
D.C. McDonald;
G. Saibene;
R. Sartori;
I. Voitsekhovitch;
M. Beurskens;
G. Arnoux;
A. Boboc;
T. Eich;
C. Giroud;
S Heureux;
E de la Luna;
G. Maddison;
A.C.C. Sips;
H. Thomsen;
T.W. Versloot;
JET EFDA contributors;
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H. Thomsen;
T. Eich;
S. Devaux;
E de la Luna;
G. Arnoux;
W. Fundamenski;
A. Herrmann;
G. Saibene;
R. Sartori;
JET EFDA Contributors;
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I. Nunes;
P.J. Lomas;
G. Saibene;
T. Eich;
G. Arnoux;
H. Thomsen;
E de la Luna;
JET EFDA contributors;
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G. Maddison;
K. McCormick;
C. Giroud;
A. Alonso;
B. Alper;
Y. Andrew;
G. Arnoux;
P. Belo;
M. Beurskens;
A. Boboc;
S. Brezinsek;
M. Brix;
I. Coffey;
E de la Luna;
P de Vries;
S. Devaux;
T. Eich;
R. Felton;
W. Fundamenski;
D. Harting;
J Hobirk;
A. Huber;
S. Jachmich;
I. Jenkins;
E. Joffrin;
A. Kallenbach;
M. Kempenaars;
M. Lehnen;
T. Loarer;
P. Lomas;
D. McDonald;
A. Meigs;
P. Morgan;
J. Ongena;
V. Riccardo;
F. Rimini;
A. Sirinelli;
M. Stamp;
G. Telesca;
H. Thomsen;
JET EFDA contributors;
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G. Saibene;
R. Sartori;
D.C. McDonald;
M. Beurskens;
A. Salmi;
J. Lönnroth;
V. Parail;
P de Vries;
Y. Andrew;
R. Budny;
A. Boboc;
I. Coffey;
E de la Luna;
A. Loarte;
P.J. Lomas;
S. Gerasimov;
C. Giroud;
J. Hobirk;
S. Hotchin;
T. Johnson;
C. Lescure;
I. Nunes;
N. Oyama;
V. Riccardo;
H. Urano;
JET EFDA contributors;
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G. Saibene;
R. Sartori;
P. de Vries;
A. Loarte;
J. Lönnroth;
V. Parail;
A. Salmi;
P.R. Thomas;
P. Andrew;
Y. Andrew;
R. Budny;
A. Boboc;
I Coffey;
E de la Luna;
P.J. Lomas;
S. Gerasimov;
C. Giroud;
J. Hobirk;
S. Hotchin;
T. Johnson;
C. Lescure;
D.C. McDonald;
I. Nunes;
N. Oyama;
V. Riccardo;
H. Urano;
JET EFDA contributors;
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Y. Andrew;
N.C. Hawkes;
R. Sartori;
V. Parail;
T.M. Biewer;
K. Crombe;
C. Giroud;
A. Korotkov;
E de la Luna;
V Naulin;
G Saibene;
P de Vries;
JET EFDA contributors;
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I. Nunes;
P.J. Lomas;
D.C. McDonald;
G. Saibene;
R. Sartori;
I. Voitsekhovitch;
M. Beurskens;
G. Arnoux;
A. Boboc;
T. Eich;
C. Giroud;
S. Heureux;
E de la Luna;
G. Maddison;
A.C.C. Sips;
H. Thomsen;
T.W. Versloot;
the JET EFDA contributors;
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K.V. Beausang;
S.L. Prunty;
R. Scannell;
M.N. Beurskens;
M.J. Walsh;
E de La Luna;
JET EFDA contributors;
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