A.A. Tuccillo;
F. Crisanti;
X. Litaudon;
Yu.F. Baranov;
A. Becoulet;
M. Becoulet L. Bertalot;
C.D. Challis;
R. Cesario;
M.R. De Baar;
P.C. de Vries;
B. Esposito;
D. Frigione;
L. Garzotti;
E. Giovannozzi;
C. Giroud;
G. Gorini;
C. Gormezano;
N.C. Hawkes;
J. Hobirk;
F. Imbeaux;
E. Joffrin;
P.J. Lomas;
J. Mailloux;
P. Mantica;
M.J. Mantsinen;
D. Mazon;
D. Moreau;
A. Murari;
V. Pericoli-Ridolfini;
F. Rimini;
A.C.C. Sips;
O. Tudisco;
D. Van Eester;
K-D. Zastrow;
JET EFDA Contributors;
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V.V. Plyusnin;
V. Riccardo;
R. Jaspers;
B. Alper;
V.G. Kiptily;
J. Mlynar;
S. Popovichev;
E. de La Luna;
P. Hel;
er;
F. Andersson;
JET EFDA Contributors;
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J. Mailloux;
A. Ekedahl;
G. Granucci;
M. Goniche;
V. Petrzílka;
K. Rantamäki;
P. Andrew;
J.-F. Artaud;
Yu. Baranov;
V. Basiuk;
I. Coffey;
K. Erents;
E. Joffrin;
K. Kirov;
X. Litaudon;
P. Lomas;
G. Matthews;
D.C. McDonald;
V. Parail;
V. Pericoli-Ridolfini;
F. Rimini;
R. Sartori;
C. Silva;
M. Stamp;
A.A. Tuccillo;
F. Zácek;
JET EFDA Contributors;
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M. Sugihara;
V. Lukash;
Y. Kawano;
R. Khayrutdinov;
N. Miki;
A. Mineev;
J. Ohmori;
H. Ohwaki;
D. Humphreys;
A. Hyatt;
V. Riccardo;
D. Whyte;
V. Zhogolev;
P. Barabaschi;
Yu. Gribov;
K. Ioki;
M. Shimada;
JET EFDA Contributors;
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