P.T. Lang;
A. Alonso;
B. Alper;
A. Boboc;
S. Devaux;
T. Eich;
R. Felton;
D. Frigione;
K. Gál;
L. Garzotti;
A. Geraud;
S. Gerasimov;
M. Goniche;
J. Hillairet;
J. Hobirk;
S.H. Hong;
K.M. Kim;
G. Kocsis;
R. Koslowski;
Y. Liang;
T. Loarer;
A. Loarte;
P.J. Lomas;
M. Maraschek;
H.W. Müller;
Y.S. Na;
F. Nave;
I. Nunes;
G. Petravich;
F. Poli;
G. Saibene;
R. Sartori;
H.Thomsen;
M. Tsalas;
M. Valovic;
R. Wenninger;
JET EFDA contributors;
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F. Imbeaux;
J.F. Artaud;
J. Kinsey;
T.J.J. Tala;
C. Bourdelle;
T. Fujita;
C. Greenfield;
E. Joffrin;
Y.S. Na;
V.V. Parail;
Y. Sakamoto;
A.C.C. Sips;
I. Voitsekovitch;
JET EFDA contributors;
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E. Joffrin;
A.C.C. Sips;
J.F. Artaud;
A. Becoulet;
R. Budny;
P. Buratti;
P. Belo;
C.D. Challis;
F. Crisanti;
M. de Baar;
P. de Vries;
C. Gormezano;
C. Giroud;
O. Gruber;
G.T.A. Huysmans;
F. Imbeaux;
A. Isayama;
X. Litaudon;
P.J. Lomas;
D. C. McDonald;
Y.S. Na;
S.D. Pinches;
A. Staebler;
T. Tala;
A. Tuccillo;
K.-D. Zastrow;
JET EFDA Contributors;
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E. Joffrin;
A.C.C. Sips;
J. F. Artaud;
A. Becoulet;
R. Budny;
P. Buratti;
P. Belo;
C.D. Challis;
F. Crisanti;
M. de Baar;
P. de Vries;
C. Gormezano;
C. Giroud;
O. Gruber;
G.T.A. Huysmans;
F. Imbeaux;
A. Isayama;
X. Litaudon;
P.J. Lomas;
D.C. McDonald;
Y.S. Na;
S.D. Pinches;
A. Staebler;
T. Tala;
A. Tuccillo;
K.-D. Zastrow;
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JET-EFDA contributors;
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