F.S. Zaitsev;
D.P. Kostomarov;
E.P. Suchkov;
R.J. Akers;
V.V. Drozdov;
E.R. Solano;
A. Murari;
S. Matejcik;
M. De Bock;
N.C. Hawkes;
L.C. Appel;
JET EFDA contributors;
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