V. Parail;
T. Evans;
T. Johnson;
J. Lonnroth;
N. Oyama;
G. Saibene;
R. Sartori;
A. Salmi;
P. de Vries;
M. Becoulet;
G. Corrigan;
J. Hastie;
C. Gimblett;
C.M. Greenfield;
T. Hatae;
D. Howell;
V. Hynönen;
Y. Kamada;
T. Kiviniemi;
T. Kurki-Suonio;
A. Loarte;
E. Nardon;
K. Shinohara;
JET EFDA contributors;
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J. Lönnroth;
V. Parail;
T. Johnson;
T. Kiviniemi;
N. Oyama;
G. Saibene;
P. de Vries;
T. Hatae;
Y. Kamada;
S. Konovalov;
A. Loarte;
K. Shinohara;
K. Tobita;
H. Urano;
JET-EFDA Contributors;
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V. Parail;
T. Johnson;
T. Kiviniemi;
J. Lonnroth;
D.F. Howell;
A. Loarte G. Saibene;
P. de Vries;
T. Hatae;
Y. Kamada;
S. Konovalov;
N. Oyama;
K. Shinohara;
K. Tobita;
H. Urano;
JET EFDA contributors;
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G. Saibene;
N. Oyama;
Y. Andrew;
J.G. Cordey;
E. de la Luna;
C. Giroud;
K. Guenther;
T. Hatae;
G.T.A. Huysmans;
Y. Kamada;
M.A.H. Kempenaars;
A. Loarte;
J. Lönnroth;
D. McDonald;
A. Meiggs;
M.F.F Nave;
V. Parail;
R. Sartori;
S. Sharapov;
J. Stober;
T. Suzuki;
M. Takechi;
K. Toi;
H. Urano;
JET EFDA Contributors;
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M. Bécoulet;
G. Huysmans;
Y. Sarazin;
X. Garbet;
Ph. Ghendrih;
F. Rimini;
E. Joffrin;
X. Litaudon;
P. Monier-Garbet;
J.-M. Ané;
P. Thomas;
A. Grosman;
V.Parail;
H. Wilson;
P. Lomas;
P. deVries;
K.-D. Zastrow;
G.F. Matthews;
J. Lonnroth;
S. Gerasimov;
S. Sharapov;
M. Gryaznevich;
G. Counsell;
S.Fielding;
A. Kirk;
M. Valovic;
R. Buttery;
A. Loarte;
G. Saibene;
R. Sartori;
A. Leonard;
P. Snyder;
L.L. Lao;
P. Gohil;
T.E. Evans;
R.A. Moyer;
Y Kamada;
A Chankin;
N. Oyama;
T. Hatae;
N. Asakura;
O. Tudisco;
E. Giovannozzi;
F. Crisanti;
C. P. Perez;
H. R. Koslowski;
T. Eich;
A. Sips;
L. Horton;
A. Hermann;
P. Lang;
J. Stober;
W. Suttrop;
P. Beyer S. Saarelma;
JET EFDA Contributors;
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J.S. Lönnroth;
V. Parail;
T. Johnson;
G. Saibene;
T. Kiviniemi;
A. Loarte;
P. de Vries;
T. Hatae;
Y. Kamada;
S. Konovalov;
N. Oyama;
K. Shinohara;
K. Tobita;
H. Urano;
JET EFDA contributors;
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G. Saibene;
T. Hatae;
D.J. Campbell;
J.C. Cordey;
E. de la Luna;
C. Giraud;
K. Guenther;
Y. Kamada;
M.A.H. Kempenaars;
A. Loarte;
J. Lönnroth;
D. McDonald;
M.F. Nave;
N. Oyama;
V.V. Parail;
R. Sartori;
J. Stober;
T. Suzuki;
M. Takechi;
K. Toi;
JET-EFDA contributors;
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