D. Testa;
A. Fasoli;
A. Klein;
P. Beaumont;
R. Bertizzolo;
R. Chavan;
F. Dolizy;
P. Lavanchy;
P. Marmillod;
V. Riccardo;
S.G. S;
ers;
J.A. Snipes;
J. Thomas;
P. Titus;
R. Walton;
M. Way;
JET EFDA contributors;
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S.V. Bulanov;
F. Pegoraro;
S.G. Shasharina;
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