J. Lönnroth;
V. Parail;
T. Johnson;
T. Kiviniemi;
N. Oyama;
G. Saibene;
P. de Vries;
T. Hatae;
Y. Kamada;
S. Konovalov;
A. Loarte;
K. Shinohara;
K. Tobita;
H. Urano;
JET-EFDA Contributors;
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V. Parail;
T. Johnson;
T. Kiviniemi;
J. Lonnroth;
D.F. Howell;
A. Loarte G. Saibene;
P. de Vries;
T. Hatae;
Y. Kamada;
S. Konovalov;
N. Oyama;
K. Shinohara;
K. Tobita;
H. Urano;
JET EFDA contributors;
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J.S. Lönnroth;
V. Parail;
T. Johnson;
G. Saibene;
T. Kiviniemi;
A. Loarte;
P. de Vries;
T. Hatae;
Y. Kamada;
S. Konovalov;
N. Oyama;
K. Shinohara;
K. Tobita;
H. Urano;
JET EFDA contributors;
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