G. Arnoux;
B. Bazylev;
M. Lehnen;
A. Loarte;
V. Riccardo;
S. Bozhenkov;
S. Devaux;
T. Eich;
W. Fundamenski;
T. Hender;
A. Hube;
S. Jachmich;
U. Kruezi;
G. Sergienko;
H. Thomsen;
JET EFDA contributors;
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U. Kruezi;
P.D. Morgan;
M. Lehnen;
S. Bozhenkov;
S. Jachmich;
M.F. Stamp;
I. Coffey;
S. Brezinsek;
P.C. de Vries;
G. Sergienko;
G.F. Matthews;
K.H. Finken;
A. Savtchkov;
JET EFDA contributors;
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