M. Wisse;
L. Marot;
A. Widdowson;
M. Rubel;
D. Ivanova;
R.P. Doerner;
M.J. Baldwin;
J. Likonen;
E. Alves;
A. Hakola;
S. Koivuranta;
R. Steiner;
E. Meyer;
JET EFDA contributors;
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