V. Riccardo;
G. Arnoux;
P. Beaumont;
S. Hacquin;
J. Hobirk;
D. Howell;
A. Huber;
E. Joffrin;
R. Koslowski;
N. Lam;
H. Leggate;
E. Rachlew;
G. Sergienko;
A. Stephen;
T. Todd;
M. Zerbini;
R. Delogu;
L. Gr;
o;
D. Marcuzzi;
S. Peruzzo;
N. Pomaro;
P. Sonato;
JET EFDA contributors;
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V. Riccardo;
G. Arnoux;
P. Beaumont;
S. Hacquin;
J. Hobirk;
D. Howell;
A. Huber;
E. Joffrin;
R. Koslowski;
N. Lam;
H. Leggate;
E. Rachlew;
G. Sergienko;
A. Stephen;
T. Todd;
M. Zerbini;
R. Delogu;
L. Gr;
o;
D. Marcuzzi;
S. Peruzzo;
N. Pomaro;
P. Sonato;
JET EFDA contributors;
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