G.T. Hoang;
C. Fourment;
J. Connor;
E.J. Doyle;
Yu. Esipchuk;
T. Fujita;
T. Fukuda;
P. Gohil;
J.E. Kinsey;
N.A.. Kirneva;
S. Lebedev;
X. Litaudon;
V. Mukhovatov;
J.Rice;
E.J. Synakowski;
K. Toi;
B. Unterberg;
V. Vershkov;
M. Wakatani;
T. Anie;
Yu.F. Baranov;
A. Bécoulet;
E. Barbato;
G. Bracco;
P. Buratti;
E.J. Doyle;
L.G. Eriksson;
Yu. Esipchuk;
B. Esposito;
T. Fujita;
T. Fukuda;
P. Gohil;
C.M. Greenfield;
M. Greenwald;
T. Hahm;
T. Hellsten;
G.T. Hoang;
D. Hogeweij;
S. Ide;
F. Imbeaux;
Y. Kamada;
J.E. Kinsey;
N.A.. Kirneva;
X. Litaudon;
P.Maget;
A. Peeters;
K. Razumova;
F. Ryter;
Y. Sakamoto;
H. Shirai;
E.J. Synakowski;
A. Sips;
T. Suzuki;
T. Takizuka;
R. Wolf;
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C.D.Challis;
Yu.F.Baranov;
A.Bécoulet;
N.C.Hawkes;
T.C.Hender;
E.Joffrin;
X.Litaudon;
P.J.Lomas;
P.Maget;
J.Mailloux;
B.C.Stratton;
G.Tresset;
K-D.Zastrow;
JET EFDA Contributors*;
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V.V.Parail;
Y.F.Baranov;
A.Becoulet;
M.Becoulet;
C.Castaldo;
C.D.Challis;
G.Corrigan;
L.Garzotti;
D.J.Heading;
W.A.Houlberg;
P.Maget;
H.Nordman;
J.Ongena;
G.Saibene;
R.Sartori;
J.Spence;
P.I.Str;
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W.Suttrop;
T.J.J.Tala;
M.Weil;
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JET EFDA Contributors;
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