P.C. Stangeby;
S.L. Allen;
N. Bekris;
N.H. Brooks;
K. Christie;
C. Chroba;
J.P. Coad;
G.F. Counsell;
J.W. Davis;
J.D. Elder;
M.E. Fenstermacher;
M. Groth;
A.A. Haasz;
J. Likonen;
B. Lipschultz;
A.G. McLean;
V. Philipps;
G.D. Porter;
D.L. Rudakov;
J. Shea;
W.R. Wampler;
J.G. Watkins;
W.P. West;
D.G. Whyte;
JET-EFDA Contributors;
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R. Nazikian;
B. Alper;
H.L. Berk;
D. Borba;
C. Boswell;
R. V. Budny;
K. Burrell;
C.Z. Cheng;
E.J. Doyle;
E. Edlund;
R.J. Fonck;
A. Fukuyama;
N.N. Gorelenkov;
C. Greenfield;
D.J. Gupta;
M.Ishikawa;
J. Jayakumar;
G.J. Kramer;
Y. Kusama;
R. La Haye;
G.R. McKee;
W.A. Peebles;
S.D. Pinches;
M. Porkolab;
J. Rapp;
T.L. Rhodes;
S.E. Sharapov;
K. Shinohara;
J.A. Snipes;
W. Solomon;
E. Strait;
M. Takechi;
M. VanZeel;
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P. West;
K.L. Wong;
S. Wukitch;
L. Zeng;
JET EFDA Contributors;
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R.V. Budny;
R. Andre;
C.D. Challis;
W. Dorl;
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R. Dux;
D.R. Ernst;
C. Giroud;
C.W. Gowers;
C.M. Greenfield;
N. Hawkes;
G.W. Hammett;
W.A. Houlberg;
T.C. Luce;
M.A. Makowski;
D. Mikkelsen;
M. Murakai;
R.Prentice;
G. Staebler;
B. Stratton;
M.R. Wade;
W.P. West;
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JET EFDA Contributors;
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