P.C. de Vries;
G. Pautasso;
E. Nardon;
P. Cahyna;
S. Gerasimov;
M. Marascheck M. Lehnen;
G.T.A. Huijsmans;
T.C. Hender;
JET EFDA contributors;
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M.E. Fenstermacher;
M. Becoulet;
P. Cahyna;
J. Canik;
C.S. Chang;
T.E. Evans P. Gohil;
S. Kaye;
A. Kirk;
Y. Liang;
A. Loarte;
R. Maingi;
O. Schmitz;
W. Suttrop;
H.R. Wilson;
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JET EFDA contributors;
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V. Riccardo;
G. Arnoux;
P. Cahyna;
T.C. Hender;
A. Huber;
S. Jachmich;
V. Kiptily;
R. Koslowski;
L. Krlin;
M. Lehnen;
A. Loarte;
E. Nardon;
R. Paprok;
D. Tskhakaya;
JET EFDA contributors;
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P. Cahyna;
E. Nardon;
JET-EFDA Contributors;
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E. Nardon;
P. Cahyna;
S. Devaux;
A. Kirk;
A. Alfier;
E. De La Luna;
G. De Temmerman;
P. Denner;
T. Eich;
T. Gerbaud;
D. Harting;
S. Jachmich;
H.R. Koslowski;
Y. Liang;
Y. Sun;
the MAST team;
JET-EFDA contributors;
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E. Nardon;
A. Kirk;
N. Ben Ayed;
M. Bécoulet;
G. Huysmans;
P.R. Thomas;
H.R. Koslowski;
Y. Liang;
P. Cahyna;
T.E. Evans;
JET EFDA contributors;
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