P.C. de Vries;
G. Arnoux;
A. Huber;
J. Flanagan;
M. Lehnen;
V. Riccardo;
C. Reux;
S. Jachmich;
C Lowry;
G. Calabro;
D. Frigione;
M Tsalas;
N. Baumgarten;
S. Brezinsek;
M. Clever;
D. Douai;
M. Groth;
T.C. Hender;
E. Hodille;
E. Joffrin;
U. Kruezi;
G.F. Matthews;
J.A. Morris;
R. Neu;
V. Philipps;
G. Sergienko;
M. Sertoli;
JET EFDA contributors;
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M. Lehnen;
G. Arnoux;
N. Baumgarten;
S. Brezinsek;
S. Devaux;
A. Huber;
S. Jachmich;
U. Kruezi;
G.F. Matthews;
C. Reux;
V. Riccardo;
B. Sieglin;
M.F. Stamp;
P.C. de Vries;
JET EFDA contributors;
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M. Lehnen;
A. Alonso;
G. Arnoux;
N. Baumgarten;
S.A. Bozhenkov;
S. Brezinsek;
M. Brix;
T. Eich;
S.N. Gerasimov;
A. Huber;
S. Jachmich;
U. Kruezi;
P.D. Morgan;
V.V. Plyusnin;
C. Reux;
V. Riccardo;
G. Sergienko;
M.F. Stamp;
A. Thornton;
M. Koltunov;
M. Tokar;
B. Bazylev;
I. L;
man;
S. Pestchanyi;
JET EFDA contributors;
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M. Lehnen;
A. Alonso;
G. Arnoux;
N. Baumgarten;
S.A. Bozhenkov;
S. Brezinsek;
M. Brix;
T. Eich;
S.N. Gerasimov;
A. Huber;
S. Jachmich;
U. Kruezi;
P.D. Morgan;
V.V. Plyusnin;
C. Reux;
V. Riccardo;
G. Sergienko;
M.F. Stamp;
JET EFDA contributors;
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