H. Boessenkool;
J. Thomas;
C.J.M. Heemskerk;
M.R. de Baar;
M. Steinbuch;
D.A. Abbink;
JET EFDA contributors;
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J. Rapp;
Y. Corre;
M.R. de Baar;
W. Fundamenski;
E. Joffrin;
P. Monier-Garbet;
I. Nunes;
M. Brix;
R. Felton;
D. Howell;
A. Huber;
H. Leggate;
O. Sauter;
G. Telesca;
R. Zagorski;
JET EFDA contributors;
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J. Rapp;
M.R. de Baar;
W. Fundamenski;
M. Brix;
R. Felton;
C. Giroud;
A. Huber;
S. Jachmich;
E. Joffrin;
I. Nunes;
G.J. van Rooij;
M. Stamp;
G. Telesca;
R. Zagorski;
JET EFDA contributors;
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A.A. Tuccillo;
F. Crisanti;
X. Litaudon;
Yu.F. Baranov;
A. Becoulet;
M. Becoulet L. Bertalot;
C.D. Challis;
R. Cesario;
M.R. De Baar;
P.C. de Vries;
B. Esposito;
D. Frigione;
L. Garzotti;
E. Giovannozzi;
C. Giroud;
G. Gorini;
C. Gormezano;
N.C. Hawkes;
J. Hobirk;
F. Imbeaux;
E. Joffrin;
P.J. Lomas;
J. Mailloux;
P. Mantica;
M.J. Mantsinen;
D. Mazon;
D. Moreau;
A. Murari;
V. Pericoli-Ridolfini;
F. Rimini;
A.C.C. Sips;
O. Tudisco;
D. Van Eester;
K-D. Zastrow;
JET EFDA Contributors;
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J. Rapp;
Y. Corre;
Y. Andrew;
M.R. de Baar;
M. Beurskens;
S. Brezinsek;
M. Brix;
S. Devaux;
T. Eich;
R. Felton;
W. Fundamenski;
C. Giroud;
D. Howell;
A. Huber;
S. Jachmich;
E. Joffrin;
A. Korotkov;
G.F. Matthews;
D.C. McDonald;
A. Meigs;
P. Monier-Garbet;
P. Morgan;
I. Nunes;
G.J. van Rooij;
O. Sauter;
M.F. Stamp;
G. Telesca;
P.C. de Vries;
R. Zagorski;
JET EFDA contributors;
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