E.Joffrin;
R.Wolf;
B.Alper;
Yu. Baranov;
A.Bécoulet;
C.Challis;
M.de Baar;
C.Giroud;
C.Gowers;
N.Hawkes;
T.Hender;
M.Marachek;
D.Mazon;
V.Parail;
K.D.Zastrow;
JET EFDA Contributors;
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