C. Bachmann;
M. Sugihara;
R. Roccella;
G. Sannazzaro;
Y. Gribov;
V. Riccardo;
T.C. Hender;
S.N. Gerasimov;
G. Pautasso;
A. Belov;
E. Lamzin;
M. Roccella;
JET EFDA contributors;
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R. Walton;
G. Agarici;
G. Amarante;
W. Baity;
B. Beaumont;
S. Brémond;
F. Durodié;
J. Fanthome;
R. Goulding;
J. Heikkinen;
A. Kaye;
R. Koch;
P. Lamalle;
G. Mazzone;
J.M. Noterdaeme;
V. Riccardo;
M. Roccella;
C. Sborchia;
P. Testoni;
P. Tigwell;
K. Vulliez;
JET EFDA Contributors;
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