S. Jachmich;
Ph. Andrew;
Y. Corre;
P. Dumortier;
T. Eich;
A. Huber;
A. Kallenbach;
M. Laux;
A. Loarte;
G. Maddison;
G. Matthews;
A. Messiaen;
P. Monier-Garbet;
M. F. F. Nave;
J. Ongena;
R. Pitts;
J. Strachan;
RI-Mode Group;
JET EFDA Contributors;
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S. Jachmich;
M. Laux;
M. Becoulet;
T. Eich;
A. Loarte;
G. Matthews;
V. Phillips;
W. Fundamenski;
M. Stamp;
JET EFDA Contributors;
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