T.C. Hender;
M. Gryaznevich;
Y.Q. Liu;
M. Bigi;
R.J. Buttery;
A. Bondeson;
C.G. Gimblett;
D.F. Howell;
S.D. Pinches;
M de Baar;
P de Vries;
JET EFDA Contributors;
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K-D Zastrow J.M. Adams;
Yu Baranov;
P. Belo;
L. Bertalot;
J.H. Brzozowski;
C.D. Challis;
S. Conroy;
M de Baar;
P de Vries;
P. Dumortier;
J. Ferreira;
L. Garzotti;
T.C. Hender;
E. Joffrin;
V. Kiptily;
J Mailloux;
D.C. McDonald;
R. Neu;
M.O'Mullane;
M.F.F. Nave;
J. Ongena;
S. Popovichev;
M. Stamp;
J. Stober;
D Stork;
I. Voitsekhovitch;
M. Valovic;
H. Weisen;
A.D. Whiteford;
A. Zabolotsky;
JET EFDA Contributors;
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J.G. Cordey;
D.C. McDonald;
I. Voitsekhovitch;
M de Baar;
E. de la Luna;
P. de Vries;
G. Maddison;
P.J. Lomas;
J. Snipes;
J. Stober;
JET EFDA Contributors;
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D.C. McDonald;
J.G. Cordey;
C.C. Petty;
M. Beurskens;
R. Budny;
I. Coffey;
M de Baar;
C. Giroud;
E. Joffrin;
P. Lomas;
A. Meigs;
J.Ongena;
G. Saibene;
R. Sartori;
I. Voitsekhovitch;
JET EFDA contributors;
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