Y. Liang;
P. Lomas;
I. Nunes. M. Gryaznevich;
M.N.A. Beurskens;
S. Brezinsek;
J. Coenen;
P. Denner;
Th. Eich;
L. Frassinetti;
S. Gerasimov;
D. Harting;
S. Jachmich;
A. Meigs;
J. Pearson;
M. Rack;
S. Saarelma;
B. Sieglin;
Y. Yang;
L. Zeng;
JET EFDA contributors;
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R. Nazikian;
B. Alper;
H.L. Berk;
D. Borba;
C. Boswell;
R. V. Budny;
K. Burrell;
C.Z. Cheng;
E.J. Doyle;
E. Edlund;
R.J. Fonck;
A. Fukuyama;
N.N. Gorelenkov;
C. Greenfield;
D.J. Gupta;
M.Ishikawa;
J. Jayakumar;
G.J. Kramer;
Y. Kusama;
R. La Haye;
G.R. McKee;
W.A. Peebles;
S.D. Pinches;
M. Porkolab;
J. Rapp;
T.L. Rhodes;
S.E. Sharapov;
K. Shinohara;
J.A. Snipes;
W. Solomon;
E. Strait;
M. Takechi;
M. VanZeel;
;
P. West;
K.L. Wong;
S. Wukitch;
L. Zeng;
JET EFDA Contributors;
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M.E. Fenstermacher;
A.W. Leonard;
T.H. Osborne;
P.B. Snyder;
D.M. Thomas;
J.A. Boedo;
T.A. Casper;
R.J. Colchin;
R.J. Groebner;
M. Groth;
A. Loarte;
M.A.H. Kempenaars;
W.M. Meyer;
G. Saibene;
M.A. VanZeel;
;
G. Wang;
X.Q. Xu;
L. Zengthe DIIID Team;
JET EFDA Contributors;
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Y. Liang;
P. Lomas;
I. Nunes;
M. Gryaznevich;
M.N.A. Beurskens;
S. Brezinsek;
J. W. Coenen;
P. Denner;
Th. Eich;
L. Frassinetti;
S. Gerasimov;
D. Harting;
S. Jachmich;
A. Meigs;
J. Pearson;
M. Rack;
S. Saarelma;
B. Sieglin;
Y. Yang;
L. Zeng;
JET EFDA contributors;
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M.E. Fenstermacher;
T.H. Osborne;
A.W. Leonard;
P.B. Snyder;
D.M. Thomas;
J.A. Boedo;
T.A. Casper;
R.J. Groebner;
M. Groth;
M.A.H. Kempenaars;
A. Loarte;
G.R. McKee;
W.M. Meyer;
G. Saibene;
M.A. VanZeel;
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X.Q. Xu;
L. Zeng;
DIIID Team;
JET EFDA Contributors*;
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