Y. Liang;
P. Lomas;
I. Nunes;
M. Gryaznevich;
M.N.A. Beurskens;
S. Brezinsek;
J. W. Coenen;
P. Denner;
Th. Eich;
L. Frassinetti;
S. Gerasimov;
D. Harting;
S. Jachmich;
A. Meigs;
J. Pearson;
M. Rack;
S. Saarelma;
B. Sieglin;
Y. Yang;
L. Zeng;
JET EFDA contributors;
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