R. Cesario;
L. Amicucci;
A. Fonseca;
I. Chapman;
F. Jenko;
M. Marinucci;
S. Saarelma;
P. Smeulders;
D. Told;
R. Zagorski;
J. Baranov;
M. Beurskens;
R. De Angelis;
D. Mc Donald;
C. Challis;
A. Galli;
J. Mailloux;
V. Pericoli;
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JET EFDA contributors;
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