P.C. de Vries;
A. Salmi;
V. Parail;
C. Giroud;
Y. Andrew;
T.M. Biewer;
K. Crombé;
I Jenkins;
T. Johnson;
V. Kiptily;
A. Loarte;
J. Lönnroth;
A. Meigs;
N. Oyama;
R. Sartori;
G. Saibene;
H. Urano;
K-D. Zastrow;
JET EFDA contributors;
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