P.C. de Vries;
A.C.C. Sips;
H.T. Kim;
P.J. Lomas;
F. Maviglia;
R. Albanese;
I. Coffey;
E. Joffrin;
M. Lehnen;
A. Manzanares;
M. O'Mulane;
I. Nunes;
G. van Rooij;
F.G. Rimini;
M.F. Stamp;
JET EFDA contributors;
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A.C.C. Sips;
H.T. Kim;
P.J. Lomas;
F. Maviglia;
R. Albanese;
I. Coffey;
E. Joffrin;
M. Lehnen;
A. Manzanares;
M. O'Mulane;
I. Nunes;
G. van Rooij;
F.G. Rimini;
M.F. Stamp;
JET EFDA contributors;
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