G. Saibene;
P. J. Lomas;
R. Sartori;
P. Andrew;
Y. Andrew;
M. Becoulet;
G. D. Conway;
K. Guenther;
L. C. Ingesson;
M. A. H. Kempenaars;
A. Korotkov;
H. R. Koslowski;
A. Loarte;
J. S. Lonnroth;
D. McDonald;
A. G. Meigs;
P. Monier Garbet;
M. F. Nave;
J. Ongena;
V. V. Parail;
C. P. Perez;
F. G. Rimini;
S. Saarelma;
S. Sharapov;
J. Stober;
P. R. Thomas;
JET EFDA Contributors;
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H. R. Koslowski;
C. P. Perez;
G. D. Conway;
P. J. Lomas;
G. Saibene;
R. Sartori;
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JET EFDA Contributors;
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P. Dumortier;
Y. Corre;
R. Felton;
E. Joffrin;
J. Hardling;
A. Messiaen;
J. Ongena;
J. Strachan;
G. Bonheure;
A. Huber;
S. Jachmich;
H. R. Koslowski;
A. Kreter;
G. Maddison;
P. Monier-Garbet;
M. F. F. Nave;
M. E. Puiatti;
B.Unterberg;
M.Valisa;
JET EFDA Contributors;
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M. Bécoulet;
G. Huysmans;
Y. Sarazin;
X. Garbet;
Ph. Ghendrih;
F. Rimini;
E. Joffrin;
X. Litaudon;
P. Monier-Garbet;
J.-M. Ané;
P. Thomas;
A. Grosman;
V.Parail;
H. Wilson;
P. Lomas;
P. deVries;
K.-D. Zastrow;
G.F. Matthews;
J. Lonnroth;
S. Gerasimov;
S. Sharapov;
M. Gryaznevich;
G. Counsell;
S.Fielding;
A. Kirk;
M. Valovic;
R. Buttery;
A. Loarte;
G. Saibene;
R. Sartori;
A. Leonard;
P. Snyder;
L.L. Lao;
P. Gohil;
T.E. Evans;
R.A. Moyer;
Y Kamada;
A Chankin;
N. Oyama;
T. Hatae;
N. Asakura;
O. Tudisco;
E. Giovannozzi;
F. Crisanti;
C. P. Perez;
H. R. Koslowski;
T. Eich;
A. Sips;
L. Horton;
A. Hermann;
P. Lang;
J. Stober;
W. Suttrop;
P. Beyer S. Saarelma;
JET EFDA Contributors;
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H. R. Koslowski;
C. Perez;
B. Alper;
T. Eich;
T. C. Hender;
G. T. A. Huysmans;
S. E. Sharapov;
P. Smeulders;
E. Westerhof;
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C. Perez;
H. R. Koslowski;
G. T. A. Huysmans;
P. Smeulders;
B. Alper;
T.C.Hender;
L. Meneses;
M. Zerbini;
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Y. Liang;
C.G. Gimblett;
P.K. Browning;
P. Devoy;
H. R. Koslowski;
S. Jachmich;
Y. Sun;
C. Wiegmann;
JET EFDA contributors;
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C. P. Perez;
H. R. Koslowski;
P. Smeulders;
G. T. A Huysmans;
S. Jachmich;
T. Eich;
A. Loarte;
G. Saibene;
T. C. Hender;
R. J. Hastie;
M. Becoulet;
P. J. Lomas;
R. Sartori;
A. Rogister;
F. C. Schueller;
JET EFDA contributors;
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C. P. Perez;
H. R. Koslowski;
G. T. A. Huysmans;
P. Smeulders;
T. C. Hender;
B.Alper;
R. J. Hastie;
L. Meneses;
M. F. F. Nave;
V. Parail;
M. Zerbini;
JET-EFDA contributors;
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