R. Nazikian;
B. Alper;
H.L. Berk;
D. Borba;
C. Boswell;
R. V. Budny;
K. Burrell;
C.Z. Cheng;
E.J. Doyle;
E. Edlund;
R.J. Fonck;
A. Fukuyama;
N.N. Gorelenkov;
C. Greenfield;
D.J. Gupta;
M.Ishikawa;
J. Jayakumar;
G.J. Kramer;
Y. Kusama;
R. La Haye;
G.R. McKee;
W.A. Peebles;
S.D. Pinches;
M. Porkolab;
J. Rapp;
T.L. Rhodes;
S.E. Sharapov;
K. Shinohara;
J.A. Snipes;
W. Solomon;
E. Strait;
M. Takechi;
M. VanZeel;
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P. West;
K.L. Wong;
S. Wukitch;
L. Zeng;
JET EFDA Contributors;
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G.L. Jackson;
M. Murakami;
D.R. Baker;
R. Budny;
M. Charlet;
M.R. deBaar;
P. Dumortier;
T.E. Evans;
R.J. Groebner;
N.C. Hawkes;
D. Hillis;
L.C. Ingesson;
E. Joffrin;
H.R. Koslowski;
K.D. Lawson;
G. Maddison;
G.R. McKee;
A.M. Messiaen;
P. Monier-Garbet;
M.F.F. Nave;
J. Ongena;
J. Rapp;
F. Sartori;
G.M. Staebler;
M. Stamp;
J.D. Strachan;
M. Tokar;
B. Unterberg;
M. von Hellerman;
M.R. Wade;
JET EFDA Contributors;
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M.E. Fenstermacher;
T.H. Osborne;
A.W. Leonard;
P.B. Snyder;
D.M. Thomas;
J.A. Boedo;
T.A. Casper;
R.J. Groebner;
M. Groth;
M.A.H. Kempenaars;
A. Loarte;
G.R. McKee;
W.M. Meyer;
G. Saibene;
M.A. VanZeel;
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X.Q. Xu;
L. Zeng;
DIIID Team;
JET EFDA Contributors*;
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G.L. Jackson;
M. Murakami;
D.R. Baker;
R. Budny;
M. Charlet;
M.R. DeBaar;
P. Dumortier;
T.E. Evans;
R.J. Groebner;
N.C. Hawkes;
D.L. Hillis;
L.C. Ingesson;
E. Joffrin;
H.R. Koslowski;
K.D. Lawson;
G. Maddison;
G.R. McKee;
A.M. Messiaen;
P. Monier-Garbet;
M.F.F. Nave;
J. Ongena;
J. Rapp;
F. Sartori;
G.M. Staebler;
M. Stamp;
J.D. Strachen;
M. Tokar;
B. Uunterberg;
M. vonHellerman;
M.R. Wade;
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