E. Giovannozzi;
M.N.A. Beurskens;
ABoboc;
A.Botrugno;
M. Brix;
J. Bucalossi;
P. Buratti;
G.Calabro;
R.Cesario;
C.Challis;
I.Coffey;
F.Crisanti;
K.Crombe;
T.Eich;
J.Flanagan;
D.Frigione;
L.Garzotti;
C.Giroud;
E.Joffrin;
MKempenaars;
E.De LaLuna;
P.Lang;
T.Loarer;
G.Maddison;
C.Mazzotta;
F.Orsitto;
R.Pasqualotto;
V.Pericoli;
F.Rimini;
M.Tsalas;
O.Tudisco;
M.Walsh;
S.Wiesen;
L.Zabeo;
JET EFDA contributors;
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J.-M. Noterdaeme;
R. Budny;
A. Cardinali;
C. Castaldo;
R. Cesario;
F.Crisanti;
J.de Grassie;
D.A. D'Ippolito;
F. Durodié;
A. Ekedahl;
E. Joffrin;
D. Hartmann;
J. Heikkinen;
T. Hellsten;
T. Jones;
V. Kiptily;
Ph. Lamalle;
X. Litaudon;
F. Nguyen;
J. Mailloux;
M. Mantsinen;
M. Mayoral;
D. Mazon;
F. Meo;
I. Monakhov;
J.R. Myra;
J. Paméla;
V. Pericoli;
O. Sauter;
Y. Sarazin;
S.E. Sharapov;
A.A. Tuccillo;
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D. Van Eester;
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F.Crisanti;
R.Albanese;
G.Ambrosino;
M.Ariola;
J.Lister;
M.Mattei;
F.Milani;
A.Pironti;
F.Sartori;
F.Villone;
JET EFDA Contributors;
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D. Mazon;
X. Litaudon;
D. Moreau;
G. Tresset;
R. Felton;
E. Joffrin;
M. Riva;
L. Zabeo;
A. Bécoulet;
J.M.Chareau;
F.Crisanti;
M. Mantsinen;
A. Murari;
V.Pericoli-Ridolfini;
K.D. Zastrow;
contributors to the EFDA-JET workprogramme.;
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J.Mailloux;
B.Alper;
Y.Baranov;
E.Barbato;
A.Becoulet;
A.Cardinali;
C.Castaldo;
R.Cesario;
C.D.Challis;
F.Crisanti;
M.deBaar;
P.deVries;
A.Ekedahl;
C.Gowers;
N.Hawkes;
F.Imbeaux;
E.Joffrin;
X.Litaudon;
D.Mazon;
V. Pericoli;
R.Prentice;
Y.Sarazin;
B.C.Stratton;
A.A.Tuccillo;
T.Tala;
K-D.Zastrow;
JET EFDA Contributors;
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J.-M. Noterdaeme;
R. Budny;
A. Cardinali;
C. Castaldo;
R. Cesario;
F. Crisanti;
J. deGrassie;
D.A. D'Ippolito;
F. Durodié;
A. Ekedahl;
A. Figueiredo;
C. Ingesson;
E. Joffrin;
D. Hartmann;
J. Heikkinen;
T.Hellsten;
T.Jones;
V.Kiptily;
Ph.Lamalle;
X.Litaudon;
F.Nguyen;
J. Mailloux;
M. Mantsinen;
M. Mayoral;
D. Mazon;
F. Meo;
I. Monakhov;
J.R. Myra;
J. Paméla;
V. Pericoli;
Yu. Petrov;
O. Sauter;
Y. Sarazin;
S.E. Sharapov;
A.A. Tuccillo;
D. Van Eester;
JET EFDA Contributors;
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D. Mazon;
X. Litaudon;
D. Moreau;
V.Pericoli-Ridolfini;
L. Zabeo;
F.Crisanti;
P. De Vries;
R. Felton;
E. Joffrin;
A. Murari;
M. Riva;
G. Tresset;
K.D. Zastrow;
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