J. Hogan;
K-D. Zastrow;
V. Parail;
D. Coster;
D. Reiter;
P. Belo;
D. Hillis;
M. Stamp;
W. Fundamenski;
G Corrigan;
D C McDonald;
J. Spence;
JET EFDA contributors;
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J G Cordey;
T C Hender;
D C McDonald;
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