G. Bonheure;
C.P. Von Thun;
M. Reich;
S. Jachmich;
A. Murari;
S.D. Pinches;
J. Mlynar;
M. Hult;
D. Arnold;
H. Dombrowski;
M. Laubenstein;
E. Wiesl;
er;
T. Vidmar;
P. Vermaercke;
F.E. Cecil;
M. Cecconelo;
T. Craciunescu;
D. Darrow;
E. Lerche;
M. Tardocchi;
D. Van Eester;
A. Salmi;
M. Garcia-Munoz;
V. Yavorskij;
S. Popovichev;
R. Koslowski;
JET EFDA contributors;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
