C. Thomser;
V. Bailescu;
S. Brezinsek;
J.W. Coenen;
H. Greuner;
T. Hirai;
J. Linke;
C.P. Lungu;
H. Maier;
G. Matthews;
Ph. Mertens;
R. Neu;
V. Philipps;
V. Riccardo;
M. Rubel;
C. Ruset;
A. Schmidt;
I. Uytdenhouwen;
JET EFDA Contributors;
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