G. Saibene;
T. Hatae;
D.J. Campbell;
J.C. Cordey;
E. de la Luna;
C. Giraud;
K. Guenther;
Y. Kamada;
M.A.H. Kempenaars;
A. Loarte;
J. Lönnroth;
D. McDonald;
M.F. Nave;
N. Oyama;
V.V. Parail;
R. Sartori;
J. Stober;
T. Suzuki;
M. Takechi;
K. Toi;
JET-EFDA contributors;
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