T. Eich;
H. Thomsen;
W. Fundamenski;
G. Arnoux;
S. Devaux;
A.Herrmann;
S. Jachmich;
J. Rapp;
JET-EFDA Contributors;
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T. Eich;
H. Thomsen;
W. Fundamenski;
G. Arnoux;
S. Devaux;
A.Herrmann;
S. Jachmich;
J. Rapp;
JET-EFDA Contributors;
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V.Philipps;
R.A.Pitts;
G.Matthews;
M.De Baar;
J.Cordey;
T.Eich;
M.Fenstermacher;
W.Fundamenski;
A.Herrmann;
D.Hillis;
A.Huber;
T.Loarer;
A.Loarte;
P.Lomas;
D.C.McDonald;
A.Pospieszczyk;
J.Rapp;
V.Riccardo;
E.Righi;
G.Saibene;
M.Stamp;
J.Strachan;
K.D.Zastrow;
JET EFDA Contributors;
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T. Eich;
A. Kallenbach;
R.A. Pitts;
S. Jachmich;
J.C. Fuchs;
A. Herrmann;
J. Neuhauser;
ASDEX Upgrade Team;
JET EFDA contributors;
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