H. Weisen;
A.C.C. Sips;
C.D Challis;
L.-G. Eriksson;
S.E. Sharapov;
P. Batistoni;
L.D. Horton;
K-D Zastrow;
JET EFDA contributors;
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Hyun-Tae Kim;
A.C.C. Sips;
P.C. de Vries;
JET EFDA contributors;
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C. Giroud;
G. Maddison;
S. Jachmich;
F. Rimini;
M. Beurskens;
I. Balboa;
S. Brezinsek;
R. Coelho;
J.W.Coenen;
L. Frassinetti;
E. Joffrin;
M. Oberkofler;
M. Lehnen;
Y. Liu;
S. Marsen;
K. McCormick;
A. Meigs;
R. Neu;
B. Sieglin;
G. van Rooij;
G. Arnoux;
P. Belo;
M. Brix;
M. Clever;
I. Coffey;
S. Devaux;
D. Douai;
T. Eich;
J. Flanagan;
S. Grünhagen;
A. Huber;
M. Kempenaars;
U. Kruezi;
K. Lawson;
P. Lomas;
C. Lowry;
I. Nunes;
A. Sirinnelli;
A.C.C. Sips;
M. Stamp;
S. Wiesen;
JET EFDA contributors;
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E. Joffrin;
M. Baruzzo;
M. Beurskens;
C. Bourdelle;
J. Bucalossi;
S. Brezinsek;
G. Calabro;
C. Challis;
M. Clever;
J. Coenen;
E. Delabie;
R. Dux;
P. Lomas;
E. de la Luna;
P.C. de Vries;
J. Flanagan;
L. Frassinetti;
D. Frigione;
C. Giroud;
M. Groth;
N. Hawkes;
J. Hobirk;
M. Lehnen;
G. Maddison;
J. Mailloux;
C. Maggi;
G. Matthews;
M. Mayoral;
A. Meigs;
R. Neu;
I. Nunes;
T. Puetterich;
F. Rimini;
M. Sertoli;
B. Sieglin;
A.C.C. Sips;
G. van Roij;
I. Voitsekhovitch;
JET EFDA contributors;
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P.C. de Vries;
A.C.C. Sips;
H.T. Kim;
P.J. Lomas;
F. Maviglia;
R. Albanese;
I. Coffey;
E. Joffrin;
M. Lehnen;
A. Manzanares;
M. O'Mulane;
I. Nunes;
G. van Rooij;
F.G. Rimini;
M.F. Stamp;
JET EFDA contributors;
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G.J. van Rooij;
J.W. Coenen;
L. Aho-Mantila;
M. Beurskens;
S. Brezinsek;
M. Clever;
R. Dux;
C. Giroud;
M. Groth;
K. Krieger;
S. Marsen;
G.F. Matthews;
G. Maddison;
A. Meigs;
R. Neu;
T. Pütterich;
A.C.C. Sips;
M.F. Stamp;
W.A.J. Vijvers;
P. de Vries;
JET EFDA contributors;
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A.C.C. Sips;
J. Schweinzer;
G. Jackson;
S. Wolfe;
J. Hobirk;
H. Hoehnle;
A. Hubbard;
E. Joffrin;
C. Kessel;
P. Lomas;
T.C. Luce;
E. de la Luna;
I. Nunes;
J. Stober;
the ASDEX-Upgrade Team;
the DIII-D Team;
the C-Mod Team;
the Integrated Operation Scenario Topical Group of the ITPA;
JET EFDA contributors;
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G. De Tommasi;
S. Galeani;
S. Jachmich;
E. Joffrin;
M. Lennholm;
P. J. Lomas;
A. C. Neto;
F. Maviglia;
P. McCullen;
A. Pironti;
F. G. Rimini;
A.C.C. Sips;
G. Varano;
R. Vitelli;
L. Zaccarian;
JET EFDA contributors;
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Hyun-Tae Kim;
A.C.C. Sips;
W. Fundamenski;
JET EFDA contributors;
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I. Nunes;
G. Saibene;
P.J. Lomas;
A.C.C. Sips;
J. Lonnroth;
I. Voitsekovitch;
JET EFDA contributors;
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