M. Rack;
B. Sieglin;
T. Eich;
J. Pearson;
Y. Liang;
I. Balboa;
A. Wingen;
S.J.P. Pamela;
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JET EFDA contributors;
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M. Rack;
A. Wingen;
Y. Liang;
K.H. Spatschek;
D.M. Harting;
S. Devaux;
JET EFDA contributors;
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