A. Lyssoivan;
D. Van Eester;
R. Koch;
E. Lerche;
D. Douai;
T. Wauters;
S. Brezinsek;
F. Durodié;
M. Graham;
E. Joffrin;
V. Kyrytsya;
M. Maslov;
M.-L. Mayoral;
V. Moiseenko;
I. Monakhov;
J. Ongena;
I. Pankratov;
M.K. Paul;
V. Philipps;
R.A. Pitts;
V. Plyusnin;
G. Sergienko;
JET EFDA contributors;
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A. Lyssoivan;
D. Douai;
J. Ongena;
V. Philipps;
F.C. Schüller;
D. Van Eester;
T. Wauters;
T. Blackman;
V. Bobkov;
S. Brezinsek;
E. de la Cal;
F. Durodié;
E. Gauthier;
T. Gerbaud;
M. Graham;
S. Jachmich;
E. Joffrin;
A. Kreter;
V. Kyrytsya;
E. Lerche;
P. Lomas;
F. Louche;
M. Maslov;
M-L. Mayoral;
V. Moiseenko;
I. Monakhov;
I. Pankratov;
M.K. Paul;
R.A. Pitts;
V. Plyusnin;
G. Sergienko;
M. Shimada;
V.L. Vdovin;
JET EFDA contributors;
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